Espectroscopia de fotocorriente aplicada a células solares de película delgada a base de silicio amorfo hidrogenado (a-Si:H)

Autores/as

  • Aníbal Valera Palacios Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú.
  • Marco Valentin Siu Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú.

DOI:

https://doi.org/10.21754/tecnia.v15i2.419

Palabras clave:

películas delgadas, silico amorfo, mediciones de fotocorriente, células solares

Resumen

En este trabajo reportamos mediciones de la respuesta óptica de silicio amorfo (a-Si:H), bajo el umbral del Gap óptico, empleando el método de espectroscopia de fotocorriente. Las películas de a-Si:H fueron elaborados por medio de un sistema plasmático DC no convencional. Las medidas sugieren que la densidad de estados de este material no es muy diferente del silicio amorfo convencional. Se determinan las posiciones de las correspondientes transiciones electrónicas fotovoltaicas, existiendo una buena correspondencia con niveles internos conocidos del material.

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Citas

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Publicado

2005-12-01

Cómo citar

[1]
A. Valera Palacios y M. Valentin Siu, «Espectroscopia de fotocorriente aplicada a células solares de película delgada a base de silicio amorfo hidrogenado (a-Si:H)», TECNIA, vol. 15, n.º 2, pp. 5–11, dic. 2005.

Número

Vol. 15 Núm. 2 (2005)

Sección

Artículos

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