Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5
DOI:
https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516Resumen
En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas
semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti,O,), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.
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