Experimental determination of refractive indices in semiconducting films: CDS, TI3O5

Authors

  • Sandro Rodríguez Laura Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Osar Miculicich Egoavil Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Christian Oliva Chirinos Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Arturo Fiorentini Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Aníbal Valera Palacios Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú

DOI:

https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516

Abstract

In this work, we present results of measurements of the refraction index realized with
semiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti,O). The
applied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide effect.

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References

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Published

2001-12-01

How to Cite

[1]
S. Rodríguez Laura, O. Miculicich Egoavil, C. Oliva Chirinos, A. Fiorentini, and A. Valera Palacios, “Experimental determination of refractive indices in semiconducting films: CDS, TI3O5”, TECNIA, vol. 11, no. 1, Dec. 2001.

Issue

Vol. 11 No. 1 (2001)

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