Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5

Autores/as

  • Sandro Rodríguez Laura Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Osar Miculicich Egoavil Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Christian Oliva Chirinos Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Arturo Fiorentini Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú
  • Aníbal Valera Palacios Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería, Lima-Perú

DOI:

https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516

Resumen

En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas
semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti,O,), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.

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Citas

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Publicado

2001-12-01

Cómo citar

[1]
S. Rodríguez Laura, O. Miculicich Egoavil, C. Oliva Chirinos, A. Fiorentini, y A. Valera Palacios, «Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5», TEC, vol. 11, n.º 1, dic. 2001.

Número

Vol. 11 Núm. 1 (2001)

Sección

Artículos

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