Estudio de los métodos analíticos para la extracción de parámetros eléctricos de módulos fotovoltaicos de capas delgadas
Colaboración con el XXIII Simposio Peruano de Energía Solar
DOI:
https://doi.org/10.21754/tecnia.v30i1.851Palabras clave:
Fotovoltaica, Modelado de tecnologías de lámina delgada, Modelo de un solo diodo, Extracción de parámetros, Curva IVResumen
Para conocer la eficiencia real de un panel y poder predecir su potencia y producción energética es necesario estudiar su comportamiento y caracterizarlo a las condiciones reales del lugar en el que está instalado. El modelo de un solo diodo para celdas fotovoltaicas (FV) relaciona la corriente y el voltaje del módulo FV mediante cinco parámetros eléctricos que nos dan información fundamental acerca de los procesos físicos que tienen lugar en las celdas FV y del estado del módulo. Actualmente, existen diversos métodos analíticos, numéricos y heurísticos para extraer los parámetros del modelo, cada uno con ventajas y desventajas que dependen del tipo de módulo y de las condiciones ambientales. Se realizó un estudio de métodos de extracción analíticos que se usan actualmente para módulos FV de silicio cristalino y se aplicaron a tecnologías FV de capas delgadas. En este trabajo se presentan los resultados de la extracción de parámetros a través de comparación entre la curva corriente-voltaje (IV) medida y la modelada, además de cálculos de Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) con el fin de comparar y evaluar ambos métodos analíticos.
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