Preparación y caracterización superficial de electrodos de espinela de cobalto dopados con cobre, Cux Co3-x O4, 0≤x≤1.5
DOI:
https://doi.org/10.21754/tecnia.v16i2.390Palabras clave:
espinela de cobalto, electrodo de Co3O4, caracterizacion superficialResumen
Se han preparado películas de óxido de cobalto (Co3O4) y óxido del cobalto dopados con cobre de fórmula CuxCo3-xO4 soportados sobre titanio empleado el método de descomposición térmica. Los electrodos fueron caraterizados por Microscopía Electrónica de barrido (SEM), Voltametría cíclica (VC) y Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), determinando que los óxidos de esppinela Cu-Co tienen estructura monofásica cuando x d>>1.0, sin embargo, cuando el contenido de cobre excede la relación estequimétrica de la cobalita de cobre, CuCo2O4 se forma una nueva especie identificada como CuO el cual aparece segregado en la superficie. La distribución de los cationes de cobre en la espinela, indica que el Cu(II) se ubica preferencialmente en los sitios octaédricos de mayor actividad electroquímica.
Descargas
Citas
[1] S. Trasatti, "Editor, Studies in Physical and Theoretical Chemistry". Vol. 11. Electrodes of Conductive Metallic Oxides. Part. A-B; Elsevier Science Publishers: Amsterdam, The Netherlands, 1980/1981.
[2] S. Trasatti, "Electrochim Acta", 45 (2000) 2377.
[3] Morallón, E., Quijada, C., Vázquez, J. L., Aldaz, A., Cases, F. "J.Appl. Electrochem", 28 (1998) 607.
[4] Montilla, E., Morallón, E., De Battisti, A., Vázquez, J. L., "J. Phys. Chem", part. B, 108 (2004) 5036.
[5] Montilla, F., Morallon, E., De Battisti, A., Benedetti, A, Yamashita, H., Vazquez, J. L., "J. Phys. Chem B, 104 (2004) 5044.
[6] Montilla, F., Morallón, E., Vázquez, J. LE "Electrochem, Soc 152 (2005) B421.
[7] Rodgers, J. D., Jedral, W., Bunce, N. J.. "Environ. Sci. Technol. 33 (1999) 1453,
[8] Szpyrkowicz, L., Juzzolino, C. Kaul. S. N.. "Wat. Res.", 35 (2001)2129
[9] Tejuca, L.G, Fierro, J. L. F.. Tascon, J. M.. "Advances in Catalysis." vol. 36, Academic, New York, 1989.
[10] Burke, L. D.. McCarthy, M. M.. "Electrochem. Soc." 135 (1988)1175.
[11] Castro, E. B., Gervasi. C. A.. "J. Hydrog. Energy 25 (2000) 1163.
[12] Tavares, A. C., Cartaxo, M. A. M.. Pereira, M. I. D., Costa, F. M.. "Electroanal. Chem" 464 (1999) 187.
[13] Singh, R. N., Pandey, J. P., Singh, N. K., Lal, B., Chartier, P., Koenig. J. F. "Electrochim Acta, 45 (2000) 1911
[14] Boggio, R., Carugati, A., Lodi, G. Trasatti. S., Appl., "J. Electrochem." 15 (1985) 335.
[15] Cox, P., Pletcher, D., J. Appl. Electrochem." 21 (1991) 11.
[16] Rios, E., Nguyen-Cong, N., Marco, J. F., Gancedo, J. R., Chartier, P., Gautier, J. L.. "Electrochim. Acta.", 45 (2000) 4431.
[17] Casella, I. G., Guascito, M. R., "Electrochim. Acta", 45 (1999) 1113.
[18] Stavart, A. Van Lierde. "J. Appl. Electrochem 31 (2001) 469.
[19] M. Ando, T. Kobayashi, S. Ijima, M. Haruta, "J. Mater. Chem., 7 (1997) 1779.
[20] Marco, J. F., Gancedo, J.R., Gracia, M., Gautier, J. L., E.I. Rios, Palmer, H. M.,
Greaves, C., Berry, F. J., Mater, J., "Chem.", 11 (2001) 3087.
[21] Svegl, F., Orel, B., Hutchins, M. G., Kalcher, K., "J. Electrochem. Soc.", 143 (1996) 1532.
[22] Poizot, P., Laurelle, S., Grugeon, S., Dupont, L., Tarascon, J. M., "Nature", 407 (2000) 496.
[23] Tavares, A. C., Da Silva Pereira, M. I.. Mendoça, M. II., Nunes, M. R., Costa, F.
M., Sá, C. M., "J. Electroanal. Chem.", 449 (1998) 91.
[24] Wen, T. C., Kang, H. M., "Electrochim. Acta", 43 (1998) 1729.
[25] Stefanov, P., Avramova, I., Stoichev, D., Radic, N., Grbic, B., Marinova, Ts., "Appl. Surf. Sci.", 245 (2005) 65.
[26] Gautier, J. L., Trollund, E., Ríos, Nkeng, E. P., Poillerat, G, J. Electroanal. Chem.", 428 (1997) 47
[27] T.C. Wen, H.M. Kang. "Electrochim. Acta" 43 (1998) 1729.
[28] Li, G. H., Dai, L. Z., Lu, D. S., Peng, S. Y., "J. Solid State. Chem", 89 (1990) 167.
[29] Fierro, G., Lo Jacono, M., Inversi, M., Dragone, R., Porta, P., "Topics in Catálisis", 10 (2000) 39-48.
[30] Fradette, N., Marsan, B., "J. Electrochem. Soc. 145 (1998) 2320.
[31] Wen. T. C., Kang, H. M.. "Electrochim. Acta", 43 (1998) 1729
[32] Galtayres, J. Grimbolt, "J. Electrón Spectr. Rel. Phenom" 98-99 (1999) 267.
[33] D. Briggs, M.P. Seah (Eds.). "Practical surface analysis: by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy. Wiley & Sons. 1996.
[34] Galtayres, J. Grimbolt, "J. Electrón Spectr. Rel. Phenom.", 98-99 (1999) 267.
[35] Angelov, S., Tyuliev, G., Marinova, Ts., "Appl. Surf. Sci. 27 (1987) 381.
[36] Li, G. H., Dai, L. Z., Lu, D. S., Peng, S. Y., "J. Solid State. Chem.", 89 (1990) 167.
[37] Gillot, B., Buguet, S., Kester, E., Baubet, C. Ph., Tailhades, "Thin Solid Films", 357 (1999)223.
[38] La Rosa Toro, Montilla, F., Morallón, E., Vázquez, J.. "REVCIUNI" VS, 2 (2004) 97.
Descargas
Publicado
Cómo citar
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 2006 TECNIA
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución 4.0.
Los artículos publicados por TECNIA pueden ser compartidos a través de la licencia pública internacional Creative Commons: CC BY 4.0. Permisos lejos de este alcance pueden ser consultados a través del correo tecnia@uni.edu.pe