Aplicaciones ópticas en la metrología

Autores/as

  • Aníbal Valera Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú
  • Carmen Eyzaguirre Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú
  • Luis Palacios Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú
  • Roddy Ramos
  • Luis Mosquera Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú

DOI:

https://doi.org/10.21754/tecnia.v9i1.415

Resumen

Un requisito básico de la Industria moderna actual; ya sea metalmecánica, electrónica o de construcción, es la precisión en su producción, dependiendo al fin y al cabo de este factor; la calidad de un producto. Constitu­yendo "La Metrología" la ciencia de la medición, presentamos en este Artículo algunas técnicas de medicio­nes ópticas implementadas en nuestro Laboratorio. Se presenta equipos para efectuar: mediciones espectrales de radiación (Transmisión, Absorción), medición de espesores, mediciones de desplazamientos.

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Biografía del autor/a

Roddy Ramos

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Citas

[1] Stille, Ulrich. "Messen and Rechnen in der Physik". Vieweg Ver. Braunschweig, Alemania, 1961.
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Archivos adicionales

Publicado

1998-06-01

Cómo citar

[1]
A. Valera, C. Eyzaguirre, L. Palacios, R. Ramos, y L. Mosquera, «Aplicaciones ópticas en la metrología», TECNIA, vol. 9, n.º 1, pp. 63–67, jun. 1998.

Número

Vol. 9 Núm. 1 (1998)

Sección

Artículos

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Derechos de autor 1998 TECNIA

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