Método de Rietveld para el estudio de estructuras cristalinas
Palabras clave:
Método de Rietveld, Difracción de rayos X.Resumen
En este trabajo se describe y aplica el Método de Rietveld para el refinamiento de una estructura cristalina. El método de Rietveld consiste en un ajuste teórico del patrón de difracción aplicando un modelo que incluye factores estructurales y experimentales. Los parámetros referenciales dados al inicio del proceso se modifican ajustando el perfil completo del patrón de difracción de nuestra muestra en polvo.
Descargas
Citas
R. A. Young, The Rietveld Method. International Union of Crystallography, Oxford Science Publications, (1996).
B. D. Cullity, et al, Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall, (2001).
S. A. Howard and KJ. D. Preston, (Modern Powder Diffraction, Reviews in Mireralogy volume 20)
J. E. Post and D. L. Bish, (Modern Powder Diffraction, Reviews in Mireralogy volume 20).
Takashi Ida, The Rigaku Journal, Vol. 19, (2002).
Norberto Masciocchi, The Rigaku Journal, Vol. 14 (1997).
D. Louër and E. J. Mittemeijer, Powder Diffraction in Material Science, (2000).
Juan Rodriguez Carvajal, An Introduction to the Program Fullprof, (2001).
Descargas
Publicado
Cómo citar
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 2005 Revista de la Facultad de Ciencias UNI
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución 4.0.
Los artículos publicados por REVCIUNI pueden ser compartidos a través de la licencia pública internacional Creative Commons: CC BY 4.0. Permisos lejos de este alcance pueden ser consultados a través del correo revistas@uni.edu.pe