Método de Rietveld para el estudio de estructuras cristalinas

Autores/as

  • Susana Petrick-Casagrande Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú
  • Ronald Castillo-Blanco Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniería. Lima, Perú

Palabras clave:

Método de Rietveld, Difracción de rayos X.

Resumen

En este trabajo se describe y aplica el Método de Rietveld para el refinamiento de una estructura cristalina. El método de Rietveld consiste en un ajuste teórico del patrón de difracción aplicando un modelo que incluye factores estructurales y experimentales. Los parámetros referenciales dados al inicio del proceso se modifican ajustando el perfil completo del patrón de difracción de nuestra muestra en polvo.

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Citas

R. A. Young, The Rietveld Method. International Union of Crystallography, Oxford Science Publications, (1996).

B. D. Cullity, et al, Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall, (2001).

S. A. Howard and KJ. D. Preston, (Modern Powder Diffraction, Reviews in Mireralogy volume 20)

J. E. Post and D. L. Bish, (Modern Powder Diffraction, Reviews in Mireralogy volume 20).

Takashi Ida, The Rigaku Journal, Vol. 19, (2002).

Norberto Masciocchi, The Rigaku Journal, Vol. 14 (1997).

D. Louër and E. J. Mittemeijer, Powder Diffraction in Material Science, (2000).

Juan Rodriguez Carvajal, An Introduction to the Program Fullprof, (2001).

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Publicado

2005-07-01

Cómo citar

Petrick-Casagrande, S., & Castillo-Blanco, R. (2005). Método de Rietveld para el estudio de estructuras cristalinas. Revista De La Facultad De Ciencias UNI, 9(1). Recuperado a partir de https://revistas.uni.edu.pe/index.php/revciuni/article/view/2391

Número

Sección

Artículos