Estudio de la Anisotropía de Películas Delgadas de Permalloy (Ni81Fe19) mediante Magnetómetro de Efecto Kerr de Supercie
Palabras clave:
MEKS, permalloy, Anisotropía uniaxial, Curva de histéresis, efecto Kerr, películas delgadas, laser, polarización elíptica , magneto ópticaResumen
Se construyó un magnetómetro de efecto Kerr de superficie (MEKS) para medir las propiedades magnéticas de películas delgadas de Permalloy (Ni81Fe19) de 20nm, 50nm, 100nm y 250nm de espesor. Se encontró que el campo coercitivo de las muestras depende del espesor de las mismas y de la dirección de aplicación del campo magnético externo. Las películas más delgadas mostraron anisotropía uniaxial en el plano y se identificaron los ejes de fácil y difícil magnetización . Se midió el ángulo de Kerr para las configuraciones longitudinal y polar y la saturación magnética para diferentes ángulos de incidencia del haz de luz. Los resultados fueron comparados satisfactoriamente con los obtenidos con un magnetómetro de muestra vibrante (MMV). Se obtuvieron mediciones de microscopia de fuerza atómica (MFA) y microscopía de fuerza magnética (MFM), para calcular el espesor y apreciar la distribución de los dominios magnéticos en la superficie de las muestras respectivamente. Se encontro´ la presencia de paredes de dominios magnéticos del tipo Neel en laspelículas más delgadas y stripe en la más gruesa.
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Citas
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