Rodríguez Laura S, Miculicich Egoavil O, Oliva Chirinos C, Fiorentini A, Valera Palacios A. Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5. TECNIA [Internet]. 1 de diciembre de 2001 [citado 22 de noviembre de 2024];11(1). Disponible en: https://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516