FERNÁNDEZ CHILLCCE, Enver; EYZAGUIRRE GORVENIA, Carmen; VALERA PALACIOS, Aníbal; CASTILLO, Guido; LOMER, Mauro. Mediciones espectrales Fotoacústicas(pas) de películas semiconductoras de Silicio Amorfo. TECNIA, [S. l.], v. 9, n. 2, 1999. DOI: 10.21754/tecnia.v9i2.323. Disponível em: https://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/323. Acesso em: 22 nov. 2024.