PONCE, F A. Perfilado directo de campos de polarización en semiconductores de nitruro a escala nanométrica mediante holografía electrónica en el microscopio electrónico de transmisión. Revista en Ciencias Básicas y Aplicadas de la Facultad de Ciencias - UNI (REVCIUNI), [S. l.], v. 15, n. 1, p. 7–15, 2025. DOI: 10.21754/revciuni.v15i1.2651. Disponível em: https://revistas.uni.edu.pe/index.php/revciuni/article/view/2651. Acesso em: 8 dic. 2025.