Espectroscopía de Fotocorriente aplicada a Películas Delgadas de Semiconductores: CDS
DOI:
https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517Resumen
En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso especifico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en si complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eV
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