Rodríguez Laura, Sandro, Osar Miculicich Egoavil, Christian Oliva Chirinos, Arturo Fiorentini, y Aníbal Valera Palacios. «Determinación Experimental De índices De Refracción En Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5». TECNIA 11, no. 1 (diciembre 1, 2001). Accedido mayo 4, 2024. http://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516.