S. Rodríguez Laura, O. Miculicich Egoavil, C. Oliva Chirinos, A. Fiorentini, y A. Valera Palacios, «Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5», TEC, vol. 11, n.º 1, dic. 2001.