RODRÍGUEZ LAURA, Sandro; MICULICICH EGOAVIL, Osar; OLIVA CHIRINOS, Christian; FIORENTINI, Arturo; VALERA PALACIOS, Aníbal. Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5. TECNIA, [S. l.], v. 11, n. 1, 2001. DOI: 10.21754/tecnia.v11i1.516. Disponível em: http://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516. Acesso em: 4 may. 2024.