Rodríguez Laura, S., Miculicich Egoavil, O., Oliva Chirinos, C., Fiorentini, A., & Valera Palacios, A. (2001). Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5. TECNIA, 11(1). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516