Fernández Chillcce, E., Eyzaguirre Gorvenia, C., Valera Palacios, A., Castillo, G., & Lomer, M. (1999). Mediciones espectrales Fotoacústicas(pas) de películas semiconductoras de Silicio Amorfo. TECNIA, 9(2). https://doi.org/10.21754/tecnia.v9i2.323